nXV-1使用干涉法测量精确的位移和厚度。
在线格式支持实时测量。可将测量探针安装在机械臂上，可在移动时进行测量，并用于各种测量任务。
此外，由于薄膜分离是可能的，它可以精确地分离表面，并提供可靠的测量值和数据，而不考虑表面上的涂层。
通过使用不同波长的光源，nXV-1测量透明产品（如薄膜和玻璃）以及不透明或粗糙产品（如硅和蓝宝石晶片）的厚度。可用于厚度难以测量的产品，如二次电池（密封厚度）和PCB保形涂层。